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SignalTap® II 逻辑分析仪是第二代系统级调试工具,能够获取、显示可编程片上系统(SOPC)的实时信号,帮助工程师在其系统设计中观察硬件和软件的交互作用。在可编程逻辑市场上,SignalTap II逻辑分析仪专用于Quartus® II 软件,与其他嵌入式逻辑分析仪相比,它支持的通道数最多,抽样深度最大,时钟速率最高。Quartus II软件4.0及其以后版本还提供了图形界面,定义了特定触发条件逻辑,实现更高的精度,解决问题的能力更强。图1是SignalTap II嵌入式逻辑分析仪的组成。SignalTap II嵌入式逻辑分析仪不需要对用户设计文件进行任何的外部探测或者修改,就可以得到内部节点或者I/O引脚的状态。
图1: SignalTap II组成

对于希望看到自己的设计能够运行良好的工程师而言,基本的测试基准是其设计能够运行在真实的系统速率条件下。当器件在系统内以系统速率运行时,SignalTap II嵌入式逻辑分析仪为设计人员提供了获取内部节点或I/O引脚状态的能力。SignalTap II嵌入式逻辑分析仪软件可以用在单JTAG链上多器件的环境下,同JTAG链上每个器件的多个逻辑分析宏函数相关联。以下是采用SignalTap II嵌入式逻辑分析仪进行逻辑分析所需要的:
通过USB Blaster、ByteBlasterMV、 ByteBlaster II或者MasterBlaster通信电缆,所获取的数据存在器件的内存中,然后输出至Quartus II软件进行波形显示。表1总结了SignalTap II嵌入式逻辑分析仪的功能和优点。这些功能和优点的详细描述请访问SignalTap II 功能说明页面。
| 表1, SignalTap II的功能和优点 | |
| 功能 | 优点 |
|---|---|
| 单器件上的多逻辑分析仪 | 支持单个器件上的多时钟域 |
| 单JTAG链上多个器件的多逻辑分析仪 | 可分析具有多时钟域的多个器件 |
| 每个分析仪具有10个基本或高级触发级别 |
可接收更复杂的数据获取命令,提供更高的精度和问题解决能力。版本4.1还支持事件计数触发条件。 |
| 灵活的缓冲获得模式 | 相对于不同的触发事件,每个触发都可以在不同范围内抽样,在环或者分段模式下,实现更精确的数据收集。 |
| 每个器件上1,024个通道 | 宽总线结构,可对多路信号抽样,允许大量数据收集实现问题定位。 |
| 每个器件上128K抽样 | 提供足够的实际应用能力 |
| 时钟支持200 MHz | 可以在系统频率下对设计数据抽样 |
| 无需全部的重新编译,即可逐步增加节点,改变信号选择,改变触发条件 | 无需全部的设计重编译,用户就可以改变对哪个节点进行监控。 |
| 模式锁定防止重新编译 | 防止会导致设计重编译的SignalTap II配置变化发生。 |
| 免费的独立查看器 |
针对多个实验室位置或现场服务人员的系统内逻辑分析布置能力。 |
| 助记和基数表 | 将来自软件源的信号标记上正确信号名称,帮助确定问题来源。 |
| 多总线显示格式 | 轻松查看和分析总线(现在对获取的数据可以进行条形图或线形图表示)。 |
| 多文件格式输出数据 | 允许其他验证工具分析获取的数据。 |
| 资源使用估算器 | 对SignalTap II嵌入式逻辑分析仪配置所使用的逻辑和存储器资源进行估算。 |
| JTAG链上器件自动探测 | 试图开始数据获取之前,确保器件连接成功。 |
| 自动探测编程硬件 | 试图开始数据获取之前,确保器件连接成功。 |
| 打印波形能力 | 打印获取的波形,便于报告。 |
| 面向源级调试工具的与供应商无关应用程序接口(API) | 允许第三方软件使用SignalTap II资源。 |
| 友好的用户界面 | 操作过程中,易于使用的状态监控器为用户提供帮助。 |
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